Под заказ

Анализатор коэффициента битовых ошибок BERTScope Tektronix BSA175C

Артикул: 1-10462

Анализатор коэффициента битовых ошибок BERTScope 17,5 Гбит/с

• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения.
• Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем.
• Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта.
• Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.


 

Анализатор коэффициента битовых ошибок BERTScope 17,5 Гбит/с Textronix BSA175C


Тестеры коэффициента битовых ошибок обладают превосходными характеристиками и исключительной гибкостью, позволяющей значительно сократить сроки разработки новых изделий и снизить расходы, связанные с тестированием на соответствие стандартам. Эти приборы прекрасно справляются со своей основной задачей быстрым и надежным выявлением ошибок в цифровых потоках.


Применение

• Проверка/измерение параметров устройств
• Проверка совместимости систем последовательной передачи данных
• Анализ целостности сигнала
• Тестирование электрических/оптических приемников в условиях максимальной нагрузки
• Автоматическое тестирование допусков джиттера CDR


Возможности

• Генерация кодовых последовательностей и анализ ошибок, высокоскоростные измерения коэффициента битовых ошибок (BER) до 26 Гбит/с
• Встроенный генератор сигнала максимальной нагрузки для тестирования глазковой диаграммы в условиях максимальной нагрузки (SRS) и автоматического тестирования допусков джиттера.
• Встроенный, коррелированный анализ глазковой диаграммы BER по маске «годен/не годен» для PCI Express, USB, SATA и других последовательных шин.
• Локализация ошибок и анализ контура BER посредством сигналов псевдослучайной двоичной последовательности со скоростью до 26 ГБ/с.


Преимущества

• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения.
• Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем.
• Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта.
• Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.


В комплект поставки входит: 

• Краткое руководство по эксплуатации
• Кабель питания
• Мышь
• Кабель-разветвитель PS2
• Три коротких кабеля с малыми потерями
• Адаптер DVI


 

Опция Описание BSA85C BSA85CPG BSA125C BSA125CPG BSA175C BSA175CPG BSA260C BSA260CPG
F2 F/2 генерация джиттера 8G/10.3125G (не-
обходима опция STR)
STR Генератор сигналов максимальной на-
грузки (включает опции ECC, MAP, PL,
XSSC, JTOL, SF)
•*
XSSC Расширенная тактовая частота с распреде-
ленным спектром (SSC) (входит в STR)
PCISTR Генерация расширенных сигналов макси-
мальной нагрузки для PCIe
 
J-MAP ПО разложения джиттера        
ECC Эмуляция кодирования с коррекцией
ошибок (ПО) (входит в STR)
       
JTOL Шаблоны допуска на джиттер (ПО) (ис-
пользуется только с STR)
       
LDA ПО анализа живых данных (входит в STR)        
MAP ПО анализа распределения ошибок
(входит в STR)
       
PL Пакет тестов физического уровня (ПО)
(входит в STR)
       
PVU Обработка компенсации PatternVu (ПО)        
SF ПО фильтрации символов (используется с STR) •**        
SLD Испытательные живые данные (ПО)        


*-В BSA85CPG обязательно должна быть установлена опция STR.
**-Для этой модели поставляется с опцией STR


 

  Серия BERTScope® BSA Серия BERTScope® CR Серия BERTScope® DPP Серия BERTScope® BA
Тип Измерение коэффициента
битовых ошибок с функциями
осциллографа
Универсальное прецизионное
восстановление и анализ тактовой
частоты
Производительный анализ
последовательных данных
Поиск источников битовых
ошибок
Макс. скорость потока 8,5 – 26 Гбит/с 12,5 – 28,6 Гбит/с 12,5 Гбит/с 1,5 – 1,6 Гбит/с
Применение • Измерение параметров ско-
ростных цифровых устройств
с помощью встроенного
генератора кодовых последо-
вательностей, обнаружение
ошибок и генерация сигналов
максимальной нагрузки
• Анализ целостности сигнала
– коррелированная глазковая
диаграмма BER, пиковый
джиттер, карта джиттера,
измеренные и экстраполиро-
ванные контура BER, тести-
рование по маске и анализ
добротности
• Опциональный встроенный
генератор калиброванного
сигнала максимальной на-
грузки SJ, SI, RJ и BUJ для
тестирования глазковой диа-
граммы и допусков джиттера,
включая:

 • 6, 11 и 25 G CEI
 • PCI Express 3.0
 • USB 3.0
 • Fibre Channel
 • 10/40/100 G Ethernet
 • SATA & SAS
 • SFP+/SFI и XFP/XFI
• Непрерывное восстановление
тактовой частоты для данных,
передаваемых со скоростью
от 150 Мбит/с до 12,5, 17,5
или 28,6 Гбит/с
• Восстановление тактовой
частоты существующих и
будущих стандартов после-
довательных шин, включая:
16XFC, 100GBASELR-4, CEI-28
G-SR, PCI-e Gen. 3, 10/40/100
G Ethernet, SAS, SATA
• Непрерывные, выбираемые
пользователем полосы ФАПЧ
от 200 кГц до 12 МГц, опцио-
нально до 24 МГц
• Автономная работа, со-
вместная работа с другим
испытательным оборудова-
нием, с приборами семейства
BERTScope или DSA8200
• Измерение параметров
высокоскоростных, сложных
устройств
• Сертификационные испыта-
ния последовательных по-
токов данных на соответствие
промышленным стандартам
• Разработка/проверка скорост-
ных компонентов и систем
ввода/вывода
• Измерение параметров полу-
проводниковых приборов
• Производственное тестиро-
вание по маске глазковой
диаграммы, тестирование BER
и джиттера
• Функциональное тестирова-
ние систем спутниковой связи
• Функциональное тестиро-
вание систем беспроводной
связи
• Тестирование оптоволоконных
компонентов и систем
• Оценка упреждающей коррек-
ции ошибок



 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии