Конфокальный микроскоп Nikon A1+
Инновационная серия конфокальных лазерных микроскопов А1+ компании Nikon позволяет получать высококачественные изображения клеток и молекулярных процессов с непревзойденной скоростью до 420 кадров в секунду. А1 удовлетворит самые изысканные требования в области визуализации. Возможен спектральный анализ и комплектация гибридным детектором на GaAsP.
| Порт ввода-вывода | 2 лазерных порта ввода 4 сигнальных порта вывода для 4-х канального PMT-детектора, спектрального детектора, системы VAAS (дополнительной) и детектора стороннего производителя (FCS/FCCS/FLIM) |
|
| Лазер | Совместимый лазер | 405 нм, 440/445 нм, 488 нм, 561/594 нм, 638/640 нм, аргоновый лазер (457 нм, 488 нм, 514 нм), гелий-неоновый лазер (543 нм) |
| Модуляция | метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор) контроль: контроль мощности каждой длины волны, контроль экспозиции изучаемой области | |
| Лазерный блок | стандартный: LU4A 4-лазерный блок A или C-LU3EX 3-лазерный блок EX опциональный: C-LU3EX 3-лазерный блок EX (когда в качестве стандартного лазерного блока выбран 4-лазерный блок A), LU-N4, LU-N4S, LU-N3, LU-NV | |
| Стандартный детектор флуоресценции | Длина волны | 400-750 нм |
| Детектор | A1-DU4 4 PMT (ФЭУ) A1-DUG 2 GaAsP + 2 PMT (ФЭУ) |
|
| Светофильтр | 6 наборов светофильтров, крепятся в каждое из трех держателей для светофильтров рекомендованные длины волн: 450/50, 482/35, 515/30, 525/50, 540/30, 550/49, 585/65, 595/50, 700/75 | |
| Диаскопический детектор | Длина волны | 450-650 нм |
| Детектор | PMT | |
| Сканирующая головка | Стандартный процесс получения изображения | Сканер: гальванический сканер x2 Размер в пикселях: максимально 4096 x 4096 пикселей Скорость сканирования: Стандартный режим: 2 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления),24 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления) Быстрый режим: 10 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления),130 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления)*1 Трансфокатор: 1-1000x бесступенчатый режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z, XY вращение, в произвольном направлении |
| Дихроичное зеркало | Метод малого угла падения лучей, позиций: 8 Стандартный фильтр: 405/488, 405/488/561, 405/488/561/638, 405/488/543/638, 457/514, BS20/80 Дополнительный фильтр: 457, 405/488/543, 457/514/561, 440/514/594 |
|
| Точечная диафрагма | изменение в пределах 12-256 мкм (плоскость 1 изображения) | |
| Спектральный детектор (с гальваническим сканером) (опция) | Количество каналов | 32 канала |
| Диапазон улавливания волн | 400-750 нм | |
| Скорость получения спектрального изображения | 4 к/с (256 x 256 пикселей), 1000 линий в секунду Размер в пикселях: максимально 2048 x 2048 пикселей |
|
| Разрешение по длинам волн | 80 нм (2,5 нм), 192 нм (6 нм), 320 нм (10 нм) диапазон длин волн меняется с шагом 0,25 нм | |
| Разделение | Высокоскоростное, точное разделение | |
| Совместимые микроскопы | Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E, микроскоп с неподвижным предметным столом ECLIPSE FN1, прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (с фокусирующей револьверной головкой или фокусирующим столом) | |
| Дополнительная комплектация | Система виртуальной адаптируемой диафрагмы VAAS | |
| Программное обеспечение | Воспроизведение/Формирование изображения | 2D-анализ, объемное 3D-изображение, 4D-анализ, спектральное разделение |
| Области применения | FRAP, FLIP, FRET (дополнительно), фотоактивация, получение трехмерных изображений во времени, получение многоточечных изображений во времени, колокализация | |
| Рекомендуемые условия установки | Температура 23? ± 5?C, относительная влажность воздуха 60% или меньше (без образования конденсата) | |
