Под заказ

Мультифотонный конфокальный микроскоп Nikon A1 MP+

Артикул: 5-363402

  • Количество каналов 32 канала
  • Диапазон улавливания волн 400-750 нм (400-650 нм для мультифотонного наблюдения)
  • Скорость получения спектрального изображения 4 к/с (256 x 256 пикселей), 1000 линий в секунду
  • Размер в пикселях: максимально 2048 x 2048 пикселей

Мультифотонный конфокальный микроскоп Nikon A1 MP+, A1R MP+ 
Мультифотонный конфокальный лазерный микроскоп А1MP+ компании Nikon позволяет визуализировать сверхглубокую динамику в живых организмах со скоростью до 420 кадров в секунду. Возможно использование инфракрасного лазера 1300 нм и нового детектора NDD, не требующего десканирования, на базе GaAsP с возможностью получения изображений на глубине свыше 1,4 мм.

A1 MP+
Порт ввода-вывода 2 лазерных порта ввода
3 порта ввода лазерного излучения 
4 порта вывода сигнала для 4-х канального PMT-детектора, спектрального детектора, системы VAAS (дополнительной) и детектора стороннего производителя (FCS/FCCS/FLIM)
Лазер для мультифотонной микроскопии Совместимый лазер Mai Tai HP/eHP DeepSee (Newport Corp.)
Chameleon Vision II (Coherent Inc.)
Модуляция метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор) Метод: Акустооптический модулятор
Управление: регулирование мощности, обратная маска, установка экспозиции в изучаемой области
Оптика для падающего излучения 700-1080 нм, автоматическая юстировка
Лазер для конфокальной микроскопии (опция) Совместимый лазер 405 нм, 440/445 нм, 488 нм, 561/594 нм, 638/640 нм, аргоновый лазер (457 нм, 488 нм, 514 нм), гелий-неоновый лазер (543 нм)
Модуляция метод: AOTF (акустооптический настраиваемый фильтр) или AOM (акустооптический модулятор)
управление: контроль мощности каждой длины волны, контроль экспозиции изучаемой области
Лазерный блок стандартный: LU4A 4-лазерный блок A или C-LU3EX 3-лазерный блок EX
опциональный: C-LU3EX 3-лазерный блок EX (когда в качестве стандартного лазерного блока выбран 4-лазерный блок A)
LU-N4, LU-N4S, LU-N3, LU-NV
Детектор, не требующий десканирования, (NDD) для многофотонной микроскопии Длина волны 480-650 нм
Детектор 4 PMT (ФЭУ)
Куб флуоресцентных фильтров Рекомендуемые наборы фильтров для мультифотонной микроскопии: 492SP, 525/50, 575/25, 629/53, DM458, DM495, DM511, DM560, DM593
Тип детектора Эпископический NDD детектор (для Ni-E/FN1/Ti-E)
Диаскопический NDD детектор (для Ni-E)
Эпископический GaAsP NDD детектор (для FN1)
Стандартный детектор Флуоресценции (опция) Длина волны 400-750 нм (400-650 нм для мультифотонного наблюдения)
Детектор A1-DU4 4 PMT (ФЭУ)
A1-DUG 2 GaAsP + 2 PMT (ФЭУ)
Светофильтр 6 наборов светофильтров, крепятся в каждое из трех держателей для светофильтров рекомендованные длины волн: 450/50, 482/35, 515/30, 525/50, 540/30, 550/49, 585/65, 595/50, 700/75
Диаскопический детектор (опция) Длина волны 440-645 нм
Детектор PMT (ФЭУ)
Сканирующая головка Стандартный процесс получения изображения Сканер: гальванический сканер x2 
Размер в пикселях: максимально 4096 x 4096 пикселей 
Скорость сканирования: 
Стандартный режим: 2 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления), 24 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления) 
Быстрый режим: 10 к/с (512 x 512 пикселей, в оба направления), 130 к/с (512 x 32 пикселя, в оба направления)*1 
Трансфокатор: 1-1000x бесступенчатый режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z, XY вращение, в произвольном направлении
Диапазон ИК лазера 700-1000 нм
Дихроичное зеркало Метод малого угла падения лучей, позиций: 8 
Стандартный фильтр: 405/488, 405/488/561, 405/488/561/638, 400-457/514/IR, 405/488/543/638, BS20/80, IR, 405/488/561/IR
Спектральный детектор (с гальваническим сканером) (опция) Количество каналов 32 канала
Диапазон улавливания волн 400-750 нм (400-650 нм для мультифотонного наблюдения)
Скорость получения спектрального изображения 4 к/с (256 x 256 пикселей), 1000 линий в секунду
Размер в пикселях: максимально 2048 x 2048 пикселей
Разрешение по длинам волн 80 нм (2,5 нм), 192 нм (6 нм), 320 нм (10 нм) диапазон длин волн меняется с шагом 0,25 нм
Разделение Высокоскоростное, точное разделение
Совместимые микроскопы Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E, микроскоп с неподвижным предметным столом ECLIPSE FN1, прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (с фокусирующей револьверной головкой или фокусирующим столом)
Дополнительная комплектация Система виртуальной адаптируемой диафрагмы VAAS
Программное обеспечение Воспроизведение/ Формирование изображения 2D-анализ, объемное 3D-изображение, 4D-анализ, спектральное разделение
Области применения FRAP, FLIP, FRET (дополнительно), фотоактивация, получение трехмерных изображений во времени, получение многоточечных изображений во времени, колокализация
Рекомендуемые условия установки Температура от 20°С до 25°С ± 1°C, круглосуточное кондиционирование воздуха, относительная влажность воздуха 75% или меньше (без образования конденсата), темное помещение или защита микроскопа от света, виброизоляционный стол
Запросить цену в 1 клик
Комментарии