Анализаторы цепей LeCroy

Артикул: 1-361624

  • Рабочий диапазон частот DC … 40 ГГц
  • Измерение S-параметров методом TDR/TDT
  • Измерение в раздельном и смешанном режимах

Артикул: 1-361625

  • Рабочий диапазон частот DC … 40 ГГц
  • Измерение S-параметров методом TDR/TDT
  • Измерение в раздельном и смешанном режимах

Артикул: 1-361626

  • Рабочий диапазон частот DC … 40 ГГц
  • Измерение S-параметров методом TDR/TDT
  • Измерение в раздельном и смешанном режимах

Артикул: 1-361627

  • Рабочий диапазон частот DC … 40 ГГц
  • Измерение S-параметров методом TDR/TDT
  • Измерение в раздельном и смешанном режимах

Артикул: 1-361628

  • Рабочий диапазон частот DC … 40 ГГц
  • Измерение S-параметров методом TDR/TDT
  • Измерение в раздельном и смешанном режимах

Артикул: 1-361629

  • Рабочий диапазон частот DC … 40 ГГц
  • Измерение S-параметров методом TDR/TDT
  • Измерение в раздельном и смешанном режимах

Артикул: 1-378325

Тип: На базе ПК; Диапазон частот: DC … 40 ГГц; Количество встроенных портов: 4; Динамический диапазон: 66 дБ; Особенности: 2В1 - тестирование во временной области (рефлектометрия) и в частотной области. Измерение S-параметров (S11, S21, S12, S22). Внутренняя, автоматическая OSLT калибровка (опция). Тип коннектора – 2,92 мм. Профиль импеданса с разрешением < 1 мм.; Интерфейс: USB

Артикул: 1-378326

Тип: На базе ПК; Диапазон частот: DC … 40 ГГц; Количество встроенных портов: 4; Динамический диапазон: 66 дБ; Особенности: Полный комплект, расширенная версия программного обеспечения + адаптеры 2,92 мм (4 шт.) + OSLT калибровочный комплект. 2В1 - тестирование во временной области (рефлектометрия) и в частотной области. Измерение S-параметров (S11, S21, S12, S22). Внутренняя, автоматическая OSLT калибровка. Тип коннектора – 2,92 мм. Эмуляция глазковых диаграмм с CTLE, DFE и FFE выравниванием. Расширенные возможности по анализу джиттера. Профиль импеданса с разрешением < 1 мм.; Интерфейс: USB

Артикул: 1-378592

Комплект для WAVEPULSER-40iX: расширенная версия программного обеспечения (USB ключ), адаптеры 2,92 мм (4 шт.), OSLT калибровочный комплект, универсальный ключ, динамометрический ключ.

Артикул: 1-380301

Длина волны: 830…1600 нм; Полоса пропускания: 36 ГГц; Коэффициент преобразования: -80 В/Вт (850 нм), -125 В/Вт (1310 нм), -125 В/Вт (1550 нм); Тип соединителя: FC/PC или SC/PC; Особенности: полоса до 25 ГГц (режим фильтрации Бесселя-Томсона), 50 Ом, 2,92 коннектор

Артикул: 1-380302

Длина волны: 750…1650 нм; Полоса пропускания: 17 ГГц (-14 дБе); Время нарастания: 33 пс; Коэффициент преобразования: 0.17 В/мВт (785 нм), 0.21 В/ мВт (850 нм), 0.33 В/ мВт (1310 нм), 0.33 В/ мВт (1550 нм); Максимальная оптическая мощность: 7 дБм (5 мВт); Тип соединителя: FC/PC; Особенности: полоса до 8.625 ГГц (-3 дБе, электро), до 11.64 ГГц (-3 дБе, оптич)

Анализатор цепей

Назначение
Приборы рассчитаны на исследование любых типов электрических цепей (четырехполюсников) и могут выполнять измерения всех амплитудных и фазовых параметров за одно подключение. С помощью анализаторов цепей можно выполнять проектирование, настройку и испытания неограниченного класса схем (включая СВЧ устройства) в радиотехнической промышленности, связи, радиолокации, а также при проведении научных исследований. Промышленностью выпускаются как векторные, так и скалярные системы, причем в силу большей информативности и удобства использования широкое распространение получили первые из них.

Принцип действия
Большинство анализаторов основано на комплексном измерении всех параметров, получаемых в реальном масштабе времени от подаваемого, отраженного и прошедшего через исследуемый четырехполюсник сигнала. В приборе конструктивно объединяются собственно источник колебаний, измерительный приемник, анализаторы S-параметров и направленные ответвители, служащие для разделения сигналов.

Благодаря высокому динамическому диапазону приемника удается работать в широком диапазоне амплитуд и исследовать при этом практически все характеризующие сигнал параметры: амплитудные, фазовые, КСВ, передаточные характеристики (модули коэффициента передачи), величины задержек и т.д.