Поиск по сайту:

Все производители:
Заказать звонок Ваш город: Москва
Каталог
или
    Войти в личный кабинет Корзина (0)





Новинки




Система Orphus

Измерительные микроскопы


Каталог раздела "Измерительные микроскопы"

Измерительный микроскоп
Назначение
Измерительные микроскопы относятся к универсальным лабораторным приборам, рассчитанным на получение точных численных значений линейных и угловых размеров деталей. Измерения могут производиться как в декартовых , так и полярных координатах, что расширяет диапазон применения. Несмотря на многофункциональность и универсальность использования, на практике выделяются следующие группы измерительных микроскопов:
• для исследования материалов;
• для металлографических лабораторий;
• для метрологических служб;
• для минералогии, кристаллографии и петрографии;
• для промэлектроники;
• учебные.

Для исследования материалов
Относятся группе промышленных измерительных микроскопов и применяются при контроле качества в процессе производства, а также при проведении профильных научных исследований. Выпускаются в вариантах с ручной или моторизированной револьверной насадкой объективов. Комплектуются «сухой» оптикой по принципу «бесконечности», что позволяет достигать увеличении свыше 2000-крат с высочайшей числовой апертурой. Широкий выбор предметных столиков обеспечивает работу с образцами различных форм и использование любых современных методов контрастирования.

Для металлографических лабораторий
Используются для исследований поверхностей в отраженном свете. Применение коаксиального типа освещения позволяет избежать оптических рефлексов, что существенно повышает точность измерений. Особая конструкция металлических держателей предметного столика позволяет работать с образцами вне зависимости от их формы и размеров, а встроенные порты расширяют функциональные возможности.
В старших моделях предусмотрена системы анализа и документирования изображений, а дополнительный магнификатор, автоматическая регулировка апертуры при переключении режимов. Возможность исследовать всю плоскость запрессованных образцов без передвижения предметного столика создают хорошие условия для проведения наблюдений.

Для метрологических служб
Микроскопы представляет собой высокоточную полностью автоматическую измерительную систему, посредством которой можно быстро и точно замерять самые различные объекты, например, пластиковые шаблоны, механические детали, элементы электронных устройств, хирургические инструменты и т.п. В зависимости от задачи и конструктивного исполнения специализированные приборы для метрологических исследований работают как конфокальные микроскопы или как интерферометры белого света.

Последняя из технологий отличается надежностью и простотой, при этом обеспечивается отличная глубина поля без расфокусировки, причём поле зрения может быть расширено за счет т.н. режима сшивания. Интерферометрический режим даёт хорошие результаты при работе с плоскостями, имеющими большие перепады высоты, что особенно важно при исследовании линз или полированной пластин для измерения их плоскостности

Для минералогии, кристаллографии и петрографии
Используются при исследовании минералов, кристаллических структур, металлов, волокон, древесины и др. Измерения основаны на методах поляризации в отраженном и проходящем свете. Функциональность расширена за счёт широкого набора аксессуаров, что необходимо для современных методов в ортоскопии и коноскопии. В конструкции используются встроенная фокусируемая линза Бертрана в промежуточном тубусе, а за счёт расширенного диапазона фокусировки по оси Z удаётся изучать образцы с большим перепадом высот. Достаточная яркость обеспечивается высокоинтенсивным источником проходящего света, снабжённого фасеточной линзой.

Для промэлектроники
Важной особенностью рассчитанных на использование в промышленной электронике стереоскопических систем является большой предметный стол с перемещением, имеющий функциею скольжения, что обеспечивает высокую скорость поиска интересующего участка образца. Штатив выполнен по ESD технологии, что исключает попадание и прилипания микрочастиц, кроме того, таким образом гарантируется защита чувствительных элементов от деградации в результате воздействия статического электричества. Особе внимание уделяется эргономичности управления, например, дублирование некоторых функций, позволяет проводить настройку микроскопа без отрыва от окуляров.

Учебные
Рассчитана на обучение студентов в университетах, однако повышенная надежность этой группы стереомикроскопов часто является аргументом для их приобретения с целью
контроля качества на промышленных предприятиях и др. Относительно невысокая цена в сочетании с комфортностью, эргономичностью и хорошими оптическими показателями делают учебные измерительные микроскопы очень востребованными практически во всех областях промышленности и науки.

 
Vision EngineeringИзмерительный микроскоп начального уровня Kestrel 200
Измерительный микроскоп начального уровня Kestrel 200

• Опции увеличения: x10, x20, x50
• Диапазон измерений: x=150 мм, y=100 мм
• Повторяемость измерений: x=0.005 мм, y=0.005 мм
• Разрешение датчика: 1.0µm

Цена предоставляется по запросу
Арт. 504080 Купить Подробно
 
Vision EngineeringАвтоматизированный микроскоп для видео- и оптических измерений Hawk 5000 VED
Автоматизированный микроскоп для видео- и оптических измерений  Hawk 5000 VED

• Опции увеличения: x10, x20, x50, x100, x200, x500, x1000
• Опции подсветки поверхности:
- 6-точечный кольцевой осветитель 150Вт
- Эпископическая (через объектив) подсветка 100Вт
• Нижняя подсветка: 100Вт

Цена предоставляется по запросу
Арт. 516654 Купить Подробно
 
Vision EngineeringВысокоточный 3-осевой измерительный микроскоп Hawk 200
Высокоточный 3-осевой измерительный микроскоп Hawk 200

• Опции увеличения: x10, x20, x50, x100, x200, x500, x1000
• Опции подсветки поверхности:
- 6-точечный кольцевой осветитель 150Вт
- Эпископическая (через объектив) подсветка 100Вт
• Нижняя подсветка: 100Вт

Цена предоставляется по запросу
Арт. 516651 Купить Подробно
 
Vision Engineering3-х осевой измерительный микроскоп Hawk 5000
3-х осевой измерительный микроскоп Hawk 5000

• Опции увеличения: x10, x20, x50, x100, x200, x500, x1000
• Опции подсветки поверхности:
- 6-точечный кольцевой осветитель 150Вт
- Эпископическая (через объектив) подсветка 100Вт
• Нижняя подсветка: 100Вт

Цена предоставляется по запросу
Арт. 516653 Купить Подробно
 
Vision EngineeringМикроскоп для видео- и оптических измерений Hawk 300
Микроскоп для видео- и оптических измерений Hawk 300

• Опции увеличения: x10, x20, x50, x100, x200, x500, x1000
• Опции подсветки поверхности:
- 6-точечный кольцевой осветитель 150Вт
- Эпископическая (через объектив) подсветка 100Вт
• Нижняя подсветка: 100Вт

Цена предоставляется по запросу
Арт. 516652 Купить Подробно
 
Vision EngineeringИзмерительный микроскоп начального уровня Kestrel Elite
Измерительный микроскоп начального уровня Kestrel Elite

• Опции увеличения: x10, x20, x50, х100
• Диапазон измерений: x=150 мм, y=100 мм
• Повторяемость измерений: x=1 мкм, y=1мкм
• Разрешение датчика: 1 мкм

Цена предоставляется по запросу
Арт. 5341319 Купить Подробно
 
Vision EngineeringПроизводственная видео измерительная система Merlin 300
Производственная видео измерительная система Merlin 300

• Опции увеличения: x10, x20, x50
• Диапазон измерений: x=150 мм, y=100 мм
• Повторяемость измерений: x=0.005 мм, y=0.005 мм
• Разрешение датчика: 1.0µm

Цена предоставляется по запросу
Арт. 504087 Купить Подробно
 
Vision EngineeringОптическийи видео измерительный микроскоп Peregrine 300
Оптическийи видео измерительный микроскоп Peregrine 300

• Опции увеличения: x10, x20, x50
• Диапазон измерений: x=150 мм, y=100 мм
• Повторяемость измерений: x=0.005 мм, y=0.005 мм
• Разрешение датчика: 1.0µm

Цена предоставляется по запросу
Арт. 504153 Купить Подробно
 
Vision EngineeringИзмерительная система Xpress 70
Измерительная система Xpress 70
  • Оптика: полностью телецентрический объектив
  • Камера: 5.0 Мп, US B2.0
  • Поле зрения:
    - X: 57mm
    - Y: 43mm
    - По диагонали: 70mm
  • Подсветка:
    - Управляемая и программируемая светодиодная верхняя подсветка
    - Управляемая и программируемая светодиодная нижняя подсветка
  • Повторяемость: 3MKM
  • Точность: (±)7MKM
  • Характеристики системы: 
    - Электропитание: 100/240В, 50/60Гц
    - Масса: 15кг
    - Размеры: 270(ш) x 375(д) x 665(в)mm
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5338036 Купить Подробно
 
Vision EngineeringИзмерительная система Xpress 35
Измерительная система Xpress 35
  • Оптика: полностью телецентрический объектив
  • Камера: 5.0 Мп, US B2.0
  • Поле зрения:
    - X: 28mm
    - Y: 21mm
    - По диагонали: 35mm
  • Подсветка:
    - Управляемая и программируемая светодиодная верхняя подсветка
    - Управляемая и программируемая светодиодная нижняя подсветка
  • Повторяемость*: 2MKM
  • Точность*: (±)4MKM
  • Характеристики системы: 
    - Электропитание: 100/240В, 50/60Гц
    - Масса: 14кг
    - Размеры: 270(ш) x 375(д) x 665(в)mm
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5338040 Купить Подробно
 
Vision EngineeringСистемы бесконтактных 3-х осевых измерений Vision Engineering FALCON
Системы бесконтактных 3-х осевых измерений Vision Engineering FALCON
  • Повторяемость результатов измерений по осям X, Y — 4 мкм и ниже.
  • Погрешность измерений: U952D = 3+(6L/1000) мкм, где L – длина (мм), при заданных условиях измерения.
  • Точность снятия показаний по оси Z — 10 мкм (при максимальном увеличении при заданных условиях измерения.
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5354072 Купить Подробно
 

Яндекс.Метрика

Карта сайта | Техническая поддержка anvexa.ru

Copyright © ПРОТЕХ All rights reserved. Все права защищены. Любое использование материалов, их подборки, дизайна и элементов дизайна может осуществляться только с разрешения ООО "ПРОФЕССИОНАЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ и ТЕХНОЛОГИИ".
Москва
МКАД 38 км, владение 4Б, стр.1, офис 214
+7 (495) 662-96-25
Санкт-Петербург
Маршала Говорова д.35, корпус 5, литера Ж, 4 этаж, офис 421
+7 (812) 643-23-55
Новосибирск
Красный проспект 220/5, офис 320
+7 (383) 325-31-55