Поиск по сайту:

Все производители:
Заказать звонок Ваш город: Москва
Каталог
или
    Войти в личный кабинет Корзина (0)

Eng




Новинки




Система Orphus

Растровые микроскопы


Каталог раздела "Растровые микроскопы"

 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JIB 4000
Растровый микроскоп JEOL JIB 4000
  • Разрешение изображений во вторичных электронах 5 нм (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
  • Ток пучка до 60 нА (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
  • Апертурная диафрагма 12-позиционная
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363073 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JIB 4510
Растровый микроскоп JEOL JIB 4510
  • Источник электронов Катод на основе монокристалла LaB6
  • Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
  • Увеличение x5 – x300 000
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363074 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JASM 6200
Растровый микроскоп JEOL JASM 6200
  • Модули до 6 (светлое поле и и ультрафиолетовое излучение в базовой комплектации)
  • Объективы 40x Иммерсионная линза
  • CCD камера Высокочувствительная цветная CCD, 1,600 x 1,200 пикселей
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363075 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM IT-300
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-300
  • Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
  • Компьютер ПК (настольный ПК), ОС Windows®7
  • Дисплей 23-дюймовый ЖК-монитор (с сенсорной панелью)
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363076 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM IT-100
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-100
  • Диапазон рабочих отрезков от 5 до 48 мм
  • Вакуумный шлюз Опция
  • Низковакуумный режим Доступен
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363077 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM-6000PLUS Neoscope II
Растровый микроскоп JEOL JSM-6000PLUS Neoscope II
  • Максимальный размер образца 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту
  • Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
  • Компьютер Настольный ПК с ОС Windows®7 64 бит
  • Дисплей 23-дюймовый сенсорный ЖК-монитор
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363078 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JIB 4610F
Растровый микроскоп JEOL JIB 4610F
  • Источник электронов Термополевой катод Шоттки (ZrO/W)
  • Ускоряющее напряжение 0,1 - 30 кВ
  • Увеличение x20 – x1 000 000
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363079 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM 7100F
Растровый микроскоп JEOL JSM 7100F
  • Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
  • Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 200 н
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363080 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JSM-7100F/TTL
Растровый микроскоп JSM-7100F/TTL
  • Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 2,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
  • Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 200 н
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363081 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JSM-7100F/LV
Растровый микроскоп JSM-7100F/LV
  • Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
  • Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 200 нА 1 пА - 20 нА (с установленной горловиной)
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363082 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM-7200F
Растровый микроскоп JEOL JSM-7200F
  • Разрешение в режиме низкого вакуума 1,8 нм (30 кВ, 30 пА)
  • Тип катода Термополевой (Шоттки)
  • Увеличение х10- x1 000 000
  • Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 300 нА
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363083 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM-7610F
Растровый микроскоп JEOL JSM-7610F
  • Тип источника электронов Термоэмиссионный катод (катод Шоттки)
  • Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
  • Увеличение х25 - x1 000 000 (в пересчете на площадь фотопластины 120 мм х 90 мм)
  • Ток пучка от 1 пА до более, чем 200 нА
  • Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена в базовую комплектацию
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363084 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM 7800F
Растровый микроскоп JEOL JSM 7800F
  • Разрешение 0,8 нм (15 кВ), 1,2 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
  • Увеличение x25- x1 000 000
  • Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 200 нА
  • Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363085 Купить Подробно
 
JEOLРастровый микроскоп JEOL JSM 7800F PRIME
Растровый микроскоп JEOL JSM 7800F PRIME
  • Увеличение x25- x1 000 000
  • Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 500 нА
  • Источник электронов Термополевой (катод Шоттки)
  • Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Цена предоставляется по запросу
Арт. 5363086 Купить Подробно
 

Карта сайта | Техническая поддержка anvexa.ru

Copyright © ПРОТЕХ All rights reserved. Все права защищены. Любое использование материалов, их подборки, дизайна и элементов дизайна может осуществляться только с разрешения ООО "ПРОФЕССИОНАЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ и ТЕХНОЛОГИИ".
Москва
МКАД 38 км, владение 4Б, стр.1, офис 214
+7 (495) 662-96-25
Санкт-Петербург
Маршала Говорова д.35, корпус 5, литера Ж, БЦ "Терминал" 2й корпус, 3й этаж, офис 356
+7 (812) 643-23-55
Новосибирск
Красный проспект 220/5, офис 320
+7 (383) 325-31-55