Под заказ

Растровый микроскоп JEOL JSM-7200F

Артикул: 5-363083

  • Разрешение в режиме низкого вакуума 1,8 нм (30 кВ, 30 пА)
  • Тип катода Термополевой (Шоттки)
  • Увеличение х10- x1 000 000
  • Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
  • Ток пучка 1 пА - 300 нА

Новый растровый электронный микроскоп компании JEOL, JSM-7200F, разрабатывался как универсальный прибор, способный работать практически с любыми образцами и решать практически любые задачи. Этот РЭМ позволяет изучать даже магнитные, электронепроводящие, биологические, а также чувствительные к воздействию электронного пучка образцы. Примененная в нем запатентованная компанией JEOL технология Shottky Plus позволяет достигать высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях (1,6 нм при 1 кВ), а также получать высокие токи пучка – до 300 нА.

Высокое значение максимального тока пучка и наличие большого количества портов в камере образцов JSM-7200F позволяют оснащать этот РЭМ множеством различных приставок: 
• энергодисперсионным спектрометром; 
• спектрометром с дисперсией по длинам волн; 
• детектором дифракции отраженных электронов; 
• системой катодолюминесценции; 
• спектрометром комбинационного рассеяния света; 
• системой микро-рентгеновского флуоресцентного анализа; 
• наноманипуляторами; 
• ПРЭМ-детектором; 
• системой РЭМ-томографии Gatan 3View; 
• спектрометром мягкого рентгеновского излучения и др. 
Также JSM-7200F может быть дооснащен специальными столиками для нагрева, охлаждения или растяжения/сжатия образцов.

 

Гибридная коническая объективная линза JSM-7200F является комбинацией электромагнитной и электростатической линз. Ее конструкция позволяет полностью исключить воздействие магнитного поля линзы на образец, что очень важно для исследования магнитных материалов, а также для получения картин дифракции отраженных электронов. Энергетический фильтр и так называемая система TTL (“through-the-lens”), встроенная в электронную колонну JSM-7200F базовой комплектации, позволяет получать изображения, используя электроны только с определенными энергиями. Это дает возможность оператору РЭМ JSM-7200F получать массу дополнительной информации об объектах исследований.

 

Используемая в JSM-7200F технология большой глубины фокуса LDF (long depth of field) позволяет проводить анализ больших площадей рельефных или наклонных образцов, не перемещая предметный столик РЭМ. Она крайне полезна при работе с детектором дифракции отраженных электронов, который требует наклона образца под углом 70°. Особенно хорошо технология LDF проявила себя при построении больших карт ориентации кристаллитов и полей остаточных напряжений.

 

 Шлюзовая камера, входящая в базовый комплект РЭМ JSM-7200F, 

• минимизирует загрязнение камеры образцов и электронно-оптической колонны, а значит продлевает срок службы термополевого катода и диафрагм; 
• в несколько раз уменьшает время замены образцов; 
• снижает нагрузку на систему откачки микроскопа и тем самым продлевает ресурс турбомолекулярного и ионных насосов; 
• сводит к нулю риск повреждения сверхтонких окон энергодисперсионного и волнодисперсионного спектрометров.

 

Разрешение в режиме высокого вакуума 1,2 нм (30 кВ),
1,6 нм (1 кВ),
3,0 нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
Разрешение в режиме низкого вакуума 1,8 нм (30 кВ, 30 пА)
Тип катода Термополевой (Шоттки)
Увеличение х10- x1 000 000
Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 300 нА
Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Энергетический фильтр Доступен в базовой комплектации
Предметный столик Эвцентрический гониометрический столик
Моторизованный по 5-ти осям
Диапазон перемещений: X: 35 мм, Y: 50 мм, Z: 39 мм
Наклон: от -5° до 70°
Вращение: 360°, непрерывное
Диапазон рабочих отрезков от 2 до 41 мм
Вакуумный шлюз Входит в базовую комплектацию
Низковакуумный режим Доступен
Давление в камере образцов при работе в низковакуумном режиме От 10 до 300 Па
Вакуумная система Полностью автоматизирована
Ионный насос — 2 шт.
Турбомолекулярный насос — 1 шт.
Форвакуумный ротационный насос — 2 шт.
Устанавливаемые опции Энергодисперсионный спектрометр
Спектрометр с дисперсией по длинам волн
Система дифракции отраженных электронов
Система катодолюминесценции
Наноманипуляторы
Детектор тока, индуцированного пучком (EBIC)
Система РЭМ-томографии Gatan 3View
Спектрометр мягкого рентгеновского излучения

 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии