Под заказ

Конфокальный микроскоп Nikon C2si+

Артикул: 5-363405

  • Совместимый лазер 405 нм/440 нм, 488 нм/Ar (457 нм, 477 нм, 488 нм, 514 нм), 543 нм/561 нм/594 нм, 633 нм/638 нм/640 нм
  • Лазерный блок C-LU3EX 3-лазерный модуль EX (AOTF или ручной модулятор), LU4A 4-лазерный модуль A (AOTF модуляция), LU-N4S, LU-N3, LU-NV

Конфокальный микроскоп Nikon C2+, C2si+ 
Конфокальный микроскоп Nikon C2+ является на данный момент незаменимым инструментом для лабораторной микроскопии. Система C2+ имеет невысокую стоимость, она стабильна и проста в использовании и позволяет достичь скорости получения изображения 100 кадров в секунду, а также имеется возможность спектрального анализа.

 

Совместимый лазер 405 нм/440 нм, 488 нм/Ar (457 нм, 477 нм, 488 нм, 514 нм), 543 нм/561 нм/594 нм, 633 нм/638 нм/640 нм
Лазерный блок C-LU3EX 3-лазерный модуль EX (AOTF или ручной модулятор), LU4A 4-лазерный модуль A (AOTF модуляция), LU-N4S, LU-N3, LU-NV
Стандартный детектор флуоресценции Длина волны: 400-750 нм, Детектор: 3 MPT, Фильтры: 2 блока
Диаскопический детектор (опция) Длина волны: 400-700 нм, Детектор: 1 MPT
Сканирующая головка (гальваническая) Со стандартным детектором: 2048 x 2048 пикселей Скорость сканирования: стандартный режим: 2 кадра/сек (512 x 512 пикселей, в 2 направлениях), 17 кадров/сек (512 x 32 пикселей, в 2 направлениях), зуммирование: 1-1000ґ; быстрый режим: 8 кадров/сек (512 x 512 пикселей, в 2 направлениях), 100 кадров/сек (512 x 32 пикселей, в 2 направлениях)*2, зуммирование: 8-1000ґ
Со спектральным детектором макс. 1024 x 1024 пикселей Скорость сканирования: 0,5 кадров/сек (512 x 512 пикселей, в одном направлении), макс. 6 кадров/сек (64 x 64 пикселей, в одном направлении
Сканирующий режим X-Y, XY вращение, зуммирование, изучаемая область, XYZ, серийная съёмка с временным интервалом, X-Z, стимуляция, многоточечный режим, сшивка изображений (большое изображение)
Спектральный детектор (с гальваническим сканером) (опция) Количество каналов: 32 канала, спектральный диапазон: 400-750 нм,
Разрешение: 2,5 нм, 5 нм, 10 нм, диапазон длин волны изменяется с шагом 0,25 нм,
Разделение спектров: быстрое разделение, точное разделение
Битовая глубина изображения 12 бит
Совместимые микроскопы Инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E/Ti-U, прямой микроскоп ECLIPSE Ni-E (с фокусировкой револьвера/с фокусировкой предметного столика)/Ni-U, микроскоп с неподвижным предметным столиком ECLIPSE FN1, многофункциональный микроскоп с большим увеличением AZ100
Программное обеспечение NIS Elements C Отображение/обработка изображения/анализ 2D/3D/4D анализ, анализ серийной съёмки с временным интервалом, объёмная 3D визуализация/ ортогональное отображение, пространственный фильтр, сшивка изображений, многопозиционная серийная съёмка с временным интервалом, спектральное разделение, разделение в режиме реального времени, виртуальные фильтры, деконволюция, вывод графических файлов формате AVI
Применение: FRAP, FLIP, FRET, фотоактивация, колокализация, трехмерная серийная съемка с временным интервалом, многопозиционная съемка с временным интервалом
Рекомендуемые условия установки Температура 23° ± 5°C, относительная влажность воздуха 60% или меньше (без образования конденсата)

 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии