Растровые электронные микроскопы
Артикул: 5-363073
Растровый микроскоп JEOL JIB 4000
Под заказ
- Разрешение изображений во вторичных электронах 5 нм (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
- Ток пучка до 60 нА (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
- Апертурная диафрагма 12-позиционная
Артикул: 5-363074
Растровый микроскоп JEOL JIB 4510
Под заказ
- Источник электронов Катод на основе монокристалла LaB6
- Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
- Увеличение x5 – x300 000
Артикул: 5-363075
Растровый микроскоп JEOL JASM 6200
Под заказ
- Модули до 6 (светлое поле и и ультрафиолетовое излучение в базовой комплектации)
- Объективы 40x Иммерсионная линза
- CCD камера Высокочувствительная цветная CCD, 1,600 x 1,200 пикселей
Артикул: 5-363076
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-300
Под заказ
- Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
- Компьютер ПК (настольный ПК), ОС Windows®7
- Дисплей 23-дюймовый ЖК-монитор (с сенсорной панелью)
Артикул: 5-363077
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-100
Под заказ
- Диапазон рабочих отрезков от 5 до 48 мм
- Вакуумный шлюз Опция
- Низковакуумный режим Доступен
Артикул: 5-363078
- Максимальный размер образца 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту
- Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
- Компьютер Настольный ПК с ОС Windows®7 64 бит
- Дисплей 23-дюймовый сенсорный ЖК-монитор
Артикул: 5-363079
Растровый микроскоп JEOL JIB 4610F
Под заказ
- Источник электронов Термополевой катод Шоттки (ZrO/W)
- Ускоряющее напряжение 0,1 - 30 кВ
- Увеличение x20 – x1 000 000
Артикул: 5-363080
Растровый микроскоп JEOL JSM 7100F
Под заказ
- Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
- Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 200 н
Артикул: 5-363081
Растровый микроскоп JSM-7100F/TTL
Под заказ
- Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 2,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
- Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 200 н
Артикул: 5-363082
Растровый микроскоп JSM-7100F/LV
Под заказ
- Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
- Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 200 нА 1 пА - 20 нА (с установленной горловиной)
Артикул: 5-363083
Растровый микроскоп JEOL JSM-7200F
Под заказ
- Разрешение в режиме низкого вакуума 1,8 нм (30 кВ, 30 пА)
- Тип катода Термополевой (Шоттки)
- Увеличение х10- x1 000 000
- Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 300 нА
Артикул: 5-363084
Растровый микроскоп JEOL JSM-7610F
Под заказ
- Тип источника электронов Термоэмиссионный катод (катод Шоттки)
- Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
- Увеличение х25 - x1 000 000 (в пересчете на площадь фотопластины 120 мм х 90 мм)
- Ток пучка от 1 пА до более, чем 200 нА
- Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена в базовую комплектацию
Артикул: 5-363085
Растровый микроскоп JEOL JSM 7800F
Под заказ
- Разрешение 0,8 нм (15 кВ), 1,2 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
- Увеличение x25- x1 000 000
- Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 200 нА
- Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Артикул: 5-363086
Растровый микроскоп JEOL JSM 7800F PRIME
Под заказ
- Увеличение x25- x1 000 000
- Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
- Ток пучка 1 пА - 500 нА
- Источник электронов Термополевой (катод Шоттки)
- Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Вход на сайт
Раздел в разработке.
Отменить заказ
Ваша корзина
| Наименование | Цена | Кол-во | Стоимость | Удалить |
Ваша корзина пока пуста. | ||||
Итого:0 руб.
Ваша корзина