Растровый микроскоп JEOL JIB 4000
Разрешение изображений во вторичных электронах 5 нм (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
Ток пучка до 60 нА (при ускоряющем напряжении 30 кВ)
Апертурная диафрагма 12-позиционная
Растровый микроскоп JEOL JIB 4510
Источник электронов Катод на основе монокристалла LaB6
Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
Увеличение x5 – x300 000
Растровый микроскоп JEOL JASM 6200
Модули до 6 (светлое поле и и ультрафиолетовое излучение в базовой комплектации)
Объективы 40x Иммерсионная линза
CCD камера Высокочувствительная цветная CCD, 1,600 x 1,200 пикселей
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-300
Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
Компьютер ПК (настольный ПК), ОС Windows®7
Дисплей 23-дюймовый ЖК-монитор (с сенсорной панелью)
Растровый микроскоп JEOL JSM IT-100
Диапазон рабочих отрезков от 5 до 48 мм
Вакуумный шлюз Опция
Низковакуумный режим Доступен
Растровый микроскоп JEOL JSM-6000PLUS Neoscope II
Максимальный размер образца 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту
Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
Компьютер Настольный ПК с ОС Windows®7 64 бит
Дисплей 23-дюймовый сенсорный ЖК-монитор
Растровый микроскоп JEOL JIB 4610F
Источник электронов Термополевой катод Шоттки (ZrO/W)
Ускоряющее напряжение 0,1 - 30 кВ
Увеличение x20 – x1 000 000
Растровый микроскоп JEOL JSM 7100F
Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 200 н
Растровый микроскоп JSM-7100F/TTL
Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 2,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 200 н
Растровый микроскоп JSM-7100F/LV
Разрешение 1,2 нм (30 кВ), 3,0 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
Ускоряющее напряжение 200 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 200 нА 1 пА - 20 нА (с установленной горловиной)
Растровый микроскоп JEOL JSM-7200F
Разрешение в режиме низкого вакуума 1,8 нм (30 кВ, 30 пА)
Тип катода Термополевой (Шоттки)
Увеличение х10- x1 000 000
Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 300 нА
Растровый микроскоп JEOL JSM-7610F
Тип источника электронов Термоэмиссионный катод (катод Шоттки)
Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
Увеличение х25 - x1 000 000 (в пересчете на площадь фотопластины 120 мм х 90 мм)
Ток пучка от 1 пА до более, чем 200 нА
Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена в базовую комплектацию
Растровый микроскоп JEOL JSM 7800F
Разрешение 0,8 нм (15 кВ), 1,2 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
Увеличение x25- x1 000 000
Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 200 нА
Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Растровый микроскоп JEOL JSM 7800F PRIME
Увеличение x25- x1 000 000
Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 500 нА
Источник электронов Термополевой (катод Шоттки)
Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
