Дефектоскопы RGK

Артикул: 1-383822
Склерометр RGK SK-60 Под заказ

  • Диапазон определения прочности 10-60 МПа
  • Основная относительная погрешность определения прочности 15%
  • Твердость индентора, не менее 60 HRC
  • Шероховатость контактной части индентора, не более10 мкм
  • Энергия удара 2,207±0.1 Дж (0,225 Kgf.m

Артикул: 1-383823

  • Диапазон определения прочности 10-60 МПа
  • Основная относительная погрешность определения прочности 15%
  • Твердость индентора, не менее 60 HRC
  • Шероховатость контактной части индентора, не более10 мкм
  • Энергия удара 2,207±0.1 Дж (0,225 Kgf.m

Пара слов о нашей продукции

Дефектоскопы
Назначение
Устройства рассчитаны на обнаружение дефектов в изделиях различной структуры, в частности, нарушений ее однородности, химического состава, размеров, появления включений и т.д. Важно, что поиск производится методами неразрушающего контроля, что делает приборы востребованными практически во всех отраслях производства – от транспорта и машиностроения до химической и нефтегазовой промышленности, в энергетике, строительстве, а также при проведении научных исследований.

Ультразвуковые дефектоскопы
Принцип действия основан на высокой проникающей способности акустических колебаний с частотой порядка 1МГц и выше, что дает возможность исследовать внутреннюю структуру предметов методом эхолокации, то есть приема отраженных от неоднородности среды сигналов. В зависимости от исполнения ультразвуковые дефектоскопы могут иметь несколько каналов, причем в последнем случае удается выполнять анализ сразу ряд локальных зон за один проход излучающей головки.
Чаще всего приборы применяют при контроле металлических изделий, однако с таким же успехом удается производить анализ полимерных, композитных и керамических объектов.

Вихретоковые дефектоскопы
Эти приборы разработаны с использованием т.н. «вихревых токов», которые посредством генератора наводятся в локальной зоне контроля с последующим измерением их параметров, в первую очередь, характера изменений электромагнитного поля. Любые отклонения свидетельствуют об имеющихся структурных дефектах, причем характерной особенностью является высокая скорость измерений и возможность выявления нарушений поверхностного слоя.