Поиск по сайту:

Заказать звонок Ваш город:
Каталог
или
    Войти в личный кабинет Корзина (0)

Eng




Новинки




Система Orphus
ПАЯЛЬНАЯ СТАНЦИЯ ТЕРМОПРО АЛЬФА-100
Главная страница / Каталог по назначению /  Микроэлектроника /  Оборудование для корпусирования и микросборки /  Входной контроль корпусов / подложек / кристаллов / материалов

Входной контроль корпусов / подложек / кристаллов / материалов

Цифровые измерительные микроскопы для входного контроля
Цифровые измерительные микроскопы для входного контроля


Показано позиций 1-2 из 2
 
MueTec Автоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT3000
Автоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT3000
  • Гибкая настройка и конфигурация системы
  • Габариты пластин/МЭМС от 2” до 200 мм
  • Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
  • Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
  • Инспекция в произвольной последовательности
  • Самообучающаяся система
  • Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
  • Масштабируемая производительность
  • Масштабируемая чувствительность к дефектам
  • Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
  • Последовательная инспекция от пластины к пластине
  • Онлайн и оффлайн анализ дефектов
  • Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
  • Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Запросить цену в 1 клик
Купить Подробно
 
MueTec Полуавтоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT2010
Полуавтоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT2010
  • Гибкая настройка и конфигурация системы
  • Габариты пластин/МЭМС от 2” до 200 мм
  • Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
  • Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
  • Инспекция в произвольной последовательности
  • Самообучающаяся система
  • Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
  • Масштабируемая производительность
  • Масштабируемая чувствительность к дефектам
  • Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
  • Последовательная инспекция от пластины к пластине
  • Онлайн и оффлайн анализ дефектов
  • Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
  • Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Запросить цену в 1 клик
Купить Подробно
Показано позиций 1-2 из 2
 
Карта сайта | Техническая поддержка anvexa.ru

Copyright © ПРОТЕХ All rights reserved. Все права защищены. Любое использование материалов, их подборки, дизайна и элементов дизайна может осуществляться только с разрешения ООО "ПРОФЕССИОНАЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ и ТЕХНОЛОГИИ".

Москва
МКАД 38 км, владение 4Б, стр.1, офис 214
+7 (495) 662-96-25
Санкт-Петербург
ул. Ивана Черных 31-33, офис 514, БЦ «Аквамарин»
+7 (812) 643-23-55
Новосибирск
Красный проспект 220/5, офис 320
+7 (383) 325-31-55