Поиск по сайту:

Заказать звонок Ваш город:
Каталог
или
    Войти в личный кабинет Корзина (0)

Eng




Новинки




Система Orphus
ПАЯЛЬНАЯ СТАНЦИЯ ТЕРМОПРО АЛЬФА-100
Главная страница / Каталог по назначению /  Микроэлектроника /  Оборудование для корпусирования и микросборки /  Входной контроль корпусов / подложек / кристаллов / материалов

Входной контроль корпусов / подложек / кристаллов / материалов

Стереомикроскопы для входного контроля
Стереомикроскопы для входного контроля
Цифровые измерительные микроскопы для входного контроля
Цифровые измерительные микроскопы для входного контроля
Весы для входного контроля
Весы для входного контроля


Показано позиций 1-2 из 2
 
MueTec Автоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT3000
Автоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT3000
  • Гибкая настройка и конфигурация системы
  • Габариты пластин/МЭМС от 2” до 200 мм
  • Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
  • Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
  • Инспекция в произвольной последовательности
  • Самообучающаяся система
  • Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
  • Масштабируемая производительность
  • Масштабируемая чувствительность к дефектам
  • Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
  • Последовательная инспекция от пластины к пластине
  • Онлайн и оффлайн анализ дефектов
  • Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
  • Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Запросить цену в 1 клик
Купить Подробно
 
MueTec Полуавтоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT2010
Полуавтоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT2010
  • Гибкая настройка и конфигурация системы
  • Габариты пластин/МЭМС от 2” до 200 мм
  • Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
  • Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
  • Инспекция в произвольной последовательности
  • Самообучающаяся система
  • Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
  • Масштабируемая производительность
  • Масштабируемая чувствительность к дефектам
  • Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
  • Последовательная инспекция от пластины к пластине
  • Онлайн и оффлайн анализ дефектов
  • Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
  • Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Запросить цену в 1 клик
Купить Подробно
Показано позиций 1-2 из 2
 
Карта сайта | Техническая поддержка anvexa.ru

Copyright © ПРОТЕХ All rights reserved. Все права защищены. Любое использование материалов, их подборки, дизайна и элементов дизайна может осуществляться только с разрешения ООО "ПРОФЕССИОНАЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ и ТЕХНОЛОГИИ".

Москва
МКАД 38 км, владение 4Б, стр.1, офис 214
+7 (495) 662-96-25
Санкт-Петербург
ул. Ивана Черных 31-33, офис 514, БЦ «Аквамарин»
+7 (812) 643-23-55
Новосибирск
Красный проспект 220/5, офис 320
+7 (383) 325-31-55