Поиск по сайту:

Все производители:
Заказать звонок Ваш город:
Каталог
или
    Войти в личный кабинет Корзина (0)

Eng




Новинки




Система Orphus
ПАЯЛЬНАЯ СТАНЦИЯ ТЕРМОПРО АЛЬФА-100

Входной контроль корпусов / подложек / кристаллов / материалов MueTec

Стереомикроскопы для входного контроля
Стереомикроскопы для входного контроля
Цифровые измерительные микроскопы для входного контроля
Цифровые измерительные микроскопы для входного контроля
Весы для входного контроля
Весы для входного контроля


Показано позиций 1-2 из 2
 
MueTec Автоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT3000
Автоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT3000
  • Гибкая настройка и конфигурация системы
  • Габариты пластин/МЭМС от 2” до 200 мм
  • Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
  • Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
  • Инспекция в произвольной последовательности
  • Самообучающаяся система
  • Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
  • Масштабируемая производительность
  • Масштабируемая чувствительность к дефектам
  • Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
  • Последовательная инспекция от пластины к пластине
  • Онлайн и оффлайн анализ дефектов
  • Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
  • Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Запросить цену в 1 клик
Купить Подробно
 
MueTec Полуавтоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT2010
Полуавтоматическая измерительно-инспекционная система MUETEC MT2010
  • Гибкая настройка и конфигурация системы
  • Габариты пластин/МЭМС от 2” до 200 мм
  • Габариты подложек/масок от 4” до 22” (от 100 до 550 мм)
  • Контроль в видимом, УФ и ИК диапазонах
  • Инспекция в произвольной последовательности
  • Самообучающаяся система
  • Лазерная автофокусировка в режиме реального времени
  • Масштабируемая производительность
  • Масштабируемая чувствительность к дефектам
  • Последовательная инспекция от кристалла к кристаллу
  • Последовательная инспекция от пластины к пластине
  • Онлайн и оффлайн анализ дефектов
  • Классификация дефектов на базе предустановленных фильтров
  • Программное и аппаратное обеспечение конфигурируется в соответствии с требованиями заказчика
Запросить цену в 1 клик
Купить Подробно
Показано позиций 1-2 из 2
 
Карта сайта | Техническая поддержка anvexa.ru

Copyright © ПРОТЕХ All rights reserved. Все права защищены. Любое использование материалов, их подборки, дизайна и элементов дизайна может осуществляться только с разрешения ООО "ПРОФЕССИОНАЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ и ТЕХНОЛОГИИ".

Москва
МКАД 38 км, владение 4Б, стр.1, офис 214
+7 (495) 662-96-25
Санкт-Петербург
ул. Ивана Черных 31-33, офис 514, БЦ «Аквамарин»
+7 (812) 643-23-55
Новосибирск
Красный проспект 220/5, офис 320
+7 (383) 325-31-55