Вы можете добавить в нее товар, кликнув по иконке "Купить" возле каждого товара.
Чтобы добавить еще единицу товара, кликните по иконке повторно либо перейдите в корзину и отредактируйте количество товара.
Компания Tektronix основана в США в 1946 году. Предприятие специализируется на изготовлении контрольно-измерительного оборудования и систем мониторинга, соответствующих мировым стандартам качества: осциллоскопов, портативных тестеров беспроводной связи, анализаторов протоколов передачи данных и т.д. Приборы, выпускаемые компанией, используются при проектировании, производстве, пусконаладке и сервисном обслуживании глобальных систем связи, компьютерных и прогрессивных технологий. За годы работы компания Tektronix зарегистрировала 675 патентов на изобретения. Головной офис Tektronix располагается в городе Бивертон штата Орегон (США). Отделения компании находятся на территории более чем 20 стран мира, имеются филиалы в Европе, Азии и Южной Америке.
• Разрядность: 5,5 • Установка 100 В: от 90 В до 110 В • Установка 120 В: от 108 В до 132 В • Установка 220 В: от 198 В до 242 В • Установка 240 В: от 216 В до 264 В • Частота: от 47 Гц до 440 Гц • Потребляемая мощность: Пиковая 15 ВА (средняя 10 Вт) • Задержка запуска: 400 мс • Задержка внешнего запуска: • Джиттер внешнего запуска: • Вход системы запуска: Уровни TTL • Выход системы запуска: макс. 5 В • Защита входа: 1000 В, все диапазоны • Выход за пределы диапазона: 10% для самых больших диапазонов всех функций, кроме проверки на обрыв и проверки диодов • Интерфейсы для подключения к ПК: RS-232C (комплект поставки включает кабель USB - RS-232 • Размеры (В x Ш x Г): 88 x 217 x 297 мм • Вес: 2.1 кг
• Разрядность: 6,5 • Установка 100 В: от 90 В до 110 В • Установка 120 В: от 108 В до 132 В • Установка 220 В: от 198 В до 242 В • Установка 240 В: от 216 В до 264 В • Частота: от 47 Гц до 440 Гц. Измеряется автоматически при включении • Потребляемая мощность: Пиковая 28 ВА (средняя 12 Вт) • Выборки на один запуск: от 1 до 50 000 • Задержка запуска: от 0 с до 3600 с; с шагом 10 мкс • Задержка внешнего запуска: • Джиттер внешнего запуска: • Вход системы запуска: Уровни TTL • Выход системы запуска: макс. 5 В (разомкнутый коллектор) • Защита входа: 1000 В, все диапазоны • Выход за пределы диапазона: 20% во всех диапазонах, кроме 1000 В пост. тока, 1000 В пер. тока, диодной шкалы и диапазона 10 А. • Интерфейсы для подключения: к ПК RS-232C, DTE 9-штырьковый, от 1200 до 230400 бод (комплект поставки включает кабель USB – RS-232) IEEE 488.2. LAN и «Ethernet 10/100Base-T с опцией DHCP (для IP-адреса)». • Размеры (В x Ш x Г): 88 x 217 x 297 мм • Вес: 3.6 кг
• Разрядность: 6,5 • Установка 100 В: от 90 В до 110 В • Установка 120 В: от 108 В до 132 В • Установка 220 В: от 198 В до 242 В • Установка 240 В: от 216 В до 264 В • Частота: от 47 Гц до 440 Гц. Измеряется автоматически при включении • Потребляемая мощность: Пиковая 28 ВА (средняя 12 Вт) • Выборки на один запуск: от 1 до 50 000 • Задержка запуска: от 0 с до 3600 с; с шагом 10 мкс • Задержка внешнего запуска: • Джиттер внешнего запуска: • Вход системы запуска: Уровни TTL • Выход системы запуска: макс. 5 В (разомкнутый коллектор) • Защита входа: 1000 В, все диапазоны • Выход за пределы диапазона: 20% во всех диапазонах, кроме 1000 В пост. тока, 1000 В пер. тока, диодной шкалы и диапазона 10 А. • Интерфейсы для подключения: к ПК RS-232C, DTE 9-штырьковый, от 1200 до 230400 бод (комплект поставки включает кабель USB – RS-232) IEEE 488.2. LAN и «Ethernet 10/100Base-T с опцией DHCP (для IP-адреса)». • Размеры (В x Ш x Г): 88 x 217 x 297 мм • Вес: 3.6 кг
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.
• Объединение генерации и анализа в одном приборе позволяет тестировать BER приемников для современных стандартов последовательных шин 2-го и 3-го поколения. • Испытательная скорость передачи, максимальная нагрузка и последовательности данных могут изменяться во время работы независимо друг от друга, позволяя генерировать широкий спектр сигналов для проверки устойчивости ИМС/систем. • Расширенные возможности отладки по сравнению с другими тестерами BER за счет представления результатов в виде знакомой глазковой диаграммы, позволяющей сравнивать их с шаблоном конкретного стандарта. • Быстрый анализ целостности сигнала, касающейся BER. Локализация ошибок предоставляет подробные диаграммы BER, ускоряя разделение ошибок BER на детерминированные и случайные.