Под заказ

Объектив для промышленных микроскопов Nikon CFI TU Plan EPI ELWD 20x

Артикул: 5-363491

  • Числовая апертура NA: 0.40
  • Рабочий отрезок WD, мм: 19.00

Объективы серии CFI TU Plan ELWD обладают большими рабочими отрезками наряду с коррекцией хроматических аберраций высших порядков. Это обеспечивает комфортную работу с разновысотными образцами.

 

 

Благодаря использованию фазовых линз Френеля коррекция хроматических аберраций возможна даже при малых расстояниях между линзами, что позволяет получить большие величины рабочих отрезков, чем при использовании обычных линз.

 

Объектив Числовая апертура NA Рабочий отрезок WD, мм
CFI TU Plan EPI ELWD 20x 0.40 19.00
CFI TU Plan EPI ELWD 50x 0.60 11.00
CFI TU Plan EPI ELWD 100x 0.80 4.50
CFI TU Plan BD ELWD 20x 0.40 19.00
CFI TU Plan BD ELWD 50x 0.60 11.00
0.80 4.50

 

Объективы TU Plan EPI ELWD предназначены для работы в светлом поле. Для метода темного поля могут использоваться только объективы TU Plan BD ELWD.

 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии