Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-ARM1300
Угол отклонения пучка, градусы 44
Тип фокусирующей линзы Электростатическая квадрупольная
Диаметр ионного пучка, мм 1
Максимальный ток пучка, нА 3 (Fe+ ) 10 (Ar+ )
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-3200FSС
Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
Увеличение x100 - x1,200,000
Длина камеры 250 – 3000 мм
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-3200FS
Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
Увеличение x100 - x1,500,000
Длина камеры 200 – 2000 мм
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-ARM300F
Тип столика Эвцентрический с боковым вводом
Диаметр образцов 3 мм
Угол наклона ±25° (при использовании держателя с двойным наклоном)
Диапазоны перемещения по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка)
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-ARM200F
Тип столика Эвцентрический с боковым вводом
Диаметр образцов 3 мм
Угол наклона ±25° (при использовании держателя с двойным наклоном)
Диапазоны перемещения по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка)
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2800
Тип столика Эвцентрический с боковым вводом образца, с пьезоподвижкой
Диаметр образца 3 мм
Углы наклона X: ±25° Y: ±30° (при использовании держателя с двойным наклоном)
Диапазоны перемещений X, Y: ±1,0 мм; Z: ±0,2 мм
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2200FS
Тип эмиттера ZrO/W (100) катод Шоттки
Яркость не менее 4×108 A/(см²*стерадиан)
Степень вакуума в пушке 10-8 Па
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2100F
В режиме высоких увеличений х 2’000 – 1’500’000 х 1’500 – 1’200’000 х 1’200 – 1’000’000 х 1’000 – 800’000
В режиме низких увеличений х 50 – 6’000 х 50 – 2’000
В режиме дифракции х 8’000 – 800’000 х 6’000 – 600’000 х 5’000 – 600’000 х 5’000 – 400’000
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2100Plus
Классическая, высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна, доведенная до совершенства.
Эргономичная, интуитивно понятная, система управления TEM Center, совместимая с 64-битной Windows.
Большой выбор полюсных наконечников объективной линзы для любого класса задач: высокого и сверхвысокого
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-1400 PLUS
Высококонтрастная электронная оптика
Новая операционная панель и ЖК сенсорный монитор делает легким и простым управление прибором.
Высоко разрешающая камера (8 M пикселей) полностью интегрирована в программу управления ПЭМ.
Множество автоматизированных функций, включающих автофокус, автоэкспозицию и автомонтаж изображений.
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-F200
Новый эргономичный, интуитивно понятный интерфейс JEM-F200 разработан специально для аналитического электронного микроскопа.
Высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна новой конструкции с 4-линзовым конденсором позволяет управлять интенсивностью пучка и углом его сходимости независимо друг от друга.
