JEM-ARM200F - ПЭМ нового поколения, уже завоевавший признание пользователей, благодаря высокой надежности и прекрасным техническим характеристикам. Встроенные додекапольные корректоры сферических аберраций (Cs-корректоры) производства JEOL, ПРЭМ-режим и возможность оснащения дополнительными приставками делают этот микроскоп поистине универсальным.
ПЭМ JEM-ARM200F выпускается в двух версиях: с источником электронов на базе термополевого катода Шоттки или с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. В первом случае, при использовании темнопольного высокоуглового детектора (STEM-HAADF), прибор позволяет получать разрешение 80 пикометров. В модификации с «холодным» катодом гарантируется разрешение 78 пикометров и энергетическая дисперсия пучка в пределах 0,3 эВ. При этом более высокая яркость пучка, меньший энергетический разброс и сверхстабильная эмиссия существенно повышают качество получаемых изображений, локальность и достоверность результатов элементного анализа. JEM-ARM200F с холодным катодом – единственный в мире прибор с технологией «Flash & Go», позволяющей осуществлять периодический отжиг катода (flashing) за очень короткий промежуток времени (1 минута!), экономя время исследователя.
Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM200F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. JEM-ARM200F демонстрирует высочайшую стабильность, как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.
Новая конструкция
JEM-ARM200F имеет полностью обновленный дизайн, новую панель управления и новый программный интерфейс управления, т.н. называемый «ПЭМ-центр». Для того, чтобы исключить влияние возможных вибраций вследствие воздействия на ПЭМ внешних воздушных потоков и акустических помех, колонна микроскопа закрывается специальным кожухом.
Улучшенная электрическая стабильность
Система электропитания ПЭМ JEM-ARM200F нивелирует возможные флуктуации в два раза эффективнее, чем традиционные ПЭМ, что в значительной степени улучшает общую стабильность электронной оптики прибора.
Улучшение стабильности ускоряющего напряжения: было 2 x 10-6/мин => стало 1 x 10-6/мин.
Улучшение стабильности тока объективной линзы: было 1 x 10-6/мин => стало 0,5 x 10-6/мин.
Улучшенная механическая стабильность
Механическая прочность конструкции JEM-ARM 200F была повышена путем дополнительного укрепления колонны микроскопа и его основания. Кроме того, для повышения стабильности колонны ее диаметр был увеличен с 200 до 300 мм. Конструкция колонны позволяет устанавливать один или два Cs-корректора (ПЭМ и ПРЭМ режима).
| Гарантированное разрешение | |
| в режиме ПРЭМ | 0,08 нм (при 200 кВ) / 0,078 (с холодным катодом) |
| в режиме ПЭМ по точкам | 0,19 нм (при 200 кВ) 0,11 нм с ПЭМ Cs-корректором (при 200 кВ) |
| в режиме ПЭМ по решетке | 0,10 нм |
| Увеличение | |
| в режиме ПРЭМ | от х200 до х150 000 000 |
| в режиме ПЭМ | от х50 до х2 000 000 |
| Источник электронов | |
| Электронная пушка | С термополевым катодом Шоттки ZrO/W (100), либо с автоэмиссионным («холодным») катодом |
| Ускоряющее напряжение | от 80 до 300 кВ (60 кВ опционально) |
| Столик образцов | |
| Тип столика | Эвцентрический с боковым вводом |
| Диаметр образцов | 3 мм |
| Угол наклона | ±25° (при использовании держателя с двойным наклоном) |
| Диапазоны перемещения | по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка) |
| Cs-корректоры и приставки | |
| Cs-корректор ПРЭМ-режима | в стандартном комплекте прибора |
| Cs-корректор ПЭМ-режима | опционально |
| Дополнительные приставки | • Энергодисперсионный спектрометр • Спектрометр характеристических потерь энергии электронов и/или энергетический фильтр • Различные ПЗС-камеры бокового и нижнего крепления • Держатели с охлаждением, нагревом, механическими нагрузками на образец и т.п. |
