Под заказ

Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-F200

Артикул: 5-363072

  • Новый эргономичный, интуитивно понятный интерфейс JEM-F200 разработан специально для аналитического электронного микроскопа. 
  • Высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна новой конструкции с 4-линзовым конденсором позволяет управлять интенсивностью пучка и углом его сходимости независимо друг от друга. 

JEM-F200 – универсальный 200кВ аналитический просвечивающий электронный микроскоп нового поколения, воплотивший в себе весь многолетний опыт специалистов компании JEOL по разработке удобных в эксплуатации, надежных ПЭМ высокого разрешения.

 

Использование различных источников электронов (термополевого либо автоэмиссионного), разных полюсных наконечников и разнообразных приставок позволяет сконфигурировать JEM-F200 для исследования любых образцов и решения любых задач.

 

Ключевые преимущества

 

• Новый эргономичный, интуитивно понятный интерфейс JEM-F200 разработан специально для аналитического электронного микроскопа. 
• Высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна новой конструкции с 4-линзовым конденсором позволяет управлять интенсивностью пучка и углом его сходимости независимо друг от друга. 
• Новая схема сканирования в JEM-F200 позволяет проводить сканирование образца электронным пучком не только с помощью системы формирования пучка, но и с помощью системы формирования изображения. Это позволяет получать широкоугольные STEM-EELS изображения. 
• Pico Stage Drive позволяет перемещать образец с пикометровым шагом без использования пьезопривода. Эти перемещения можно совершать в широком диапазоне увеличений – от низких (когда видно практически весь образец) до высоких (когда видно отдельные атомы). 
• JEM-F200 оснащен автоматическим устройством ввода-вывода образца SPECPORTER, которое автоматически, быстро и безопасно вводит и извлекает держатель образцов из колонны ПЭМ. От оператора требуется лишь поместить держатель в это устройство и активировать SPECPORTER одним щелчком мыши. 
• По желанию заказчика JEM-F200 может быть укомплектован автоэмиссионной («холодной») электронной пушкой, которая обеспечивает высочайшую яркость, стабильность, энергетическую когерентность пучка и минимальный уровень сферических аберраций. 
• Конструкция JEM-F200 дает возможность проводить быстрый элементный анализ, вплоть до атомного пространственного разрешения, при помощи двух энергодисперсионных спектрометров с безазотным охлаждением и большой площадью детекторов. 
• Также разработчиками JEM-F200 предусмотрен энергосберегающий ECO-режим ожидания с сохранением оптимальных рабочих параметров, способный снизить энергопотребление прибора в 5 раз. Планировщик заданий позволяет быстро вернуться в нормальный рабочий режим в заданный день и время.

 

Полюсный наконечник Сверхвысокого разрешения Высокого разрешения
Разрешение по точкам (TEM), нм 0,19 0,23
Разрешение по решетке (TEM), нм 0,1  
Разрешение по решетке (STEM-HAADF), нм 0,14 (автоэмиссионный катод)
0,16 (катод Шоттки)
0,16 (автоэмиссионный катод)
0,19 (катод Шоттки)
Ускоряющее напряжение 80-200кВ
20-200кВ (опция)
Тип эмиттера ZrO/W (100) катод Шоттки, либо W <310> автоэмиссионный катод
Диапазон увеличений ПЭМ: х20 – х2 000 000
ПРЭМ: х200 – х150 000 000
 
Максимальный угол наклона образца ±80° (с использованием держателя высокого наклона)
Устанавливаемые приставки Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) – до 2 шт.
Спектрометр характеристических потерь энергии электронов
Цифровые камеры (ПЗС или КМОП)
Система ПЭМ-томографии

 

Запросить цену в 1 клик
Комментарии