Просвечивающие электронные микроскопы JEOL
Артикул: 5-363062
- Угол отклонения пучка, градусы 44
- Тип фокусирующей линзы Электростатическая квадрупольная
- Диаметр ионного пучка, мм 1
- Максимальный ток пучка, нА 3 (Fe+) 10 (Ar+)
Артикул: 5-363063
- Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
- Увеличение x100 - x1,200,000
- Длина камеры 250 – 3000 мм
Артикул: 5-363064
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-3200FS
Под заказ
- Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
- Увеличение x100 - x1,500,000
- Длина камеры 200 – 2000 мм
Артикул: 5-363065
- Тип столика Эвцентрический с боковым вводом
- Диаметр образцов 3 мм
- Угол наклона ±25° (при использовании держателя с двойным наклоном)
- Диапазоны перемещения по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка)
Артикул: 5-363066
- Тип столика Эвцентрический с боковым вводом
- Диаметр образцов 3 мм
- Угол наклона ±25° (при использовании держателя с двойным наклоном)
- Диапазоны перемещения по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка)
Артикул: 5-363067
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2800
Под заказ
- Тип столика Эвцентрический с боковым вводом образца, с пьезоподвижкой
- Диаметр образца 3 мм
- Углы наклона X: ±25° Y: ±30° (при использовании держателя с двойным наклоном)
- Диапазоны перемещений X, Y: ±1,0 мм; Z: ±0,2 мм
Артикул: 5-363068
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2200FS
Под заказ
- Тип эмиттера ZrO/W (100) катод Шоттки
- Яркость не менее 4×108 A/(см²*стерадиан)
- Степень вакуума в пушке 10-8 Па
Артикул: 5-363069
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-2100F
Под заказ
- В режиме высоких увеличений х 2’000 – 1’500’000 х 1’500 – 1’200’000 х 1’200 – 1’000’000 х 1’000 – 800’000
- В режиме низких увеличений х 50 – 6’000 х 50 – 2’000
- В режиме дифракции х 8’000 – 800’000 х 6’000 – 600’000 х 5’000 – 600’000 х 5’000 – 400’000
Артикул: 5-363070
- Классическая, высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна, доведенная до совершенства.
- Эргономичная, интуитивно понятная, система управления TEM Center, совместимая с 64-битной Windows.
- Большой выбор полюсных наконечников объективной линзы для любого класса задач: высокого и сверхвысокого
Артикул: 5-363071
- Высококонтрастная электронная оптика
- Новая операционная панель и ЖК сенсорный монитор делает легким и простым управление прибором.
- Высоко разрешающая камера (8 M пикселей) полностью интегрирована в программу управления ПЭМ.
- Множество автоматизированных функций, включающих автофокус, автоэкспозицию и автомонтаж изображений.
Артикул: 5-363072
Просвечивающий микроскоп JEOL JEM-F200
Под заказ
- Новый эргономичный, интуитивно понятный интерфейс JEM-F200 разработан специально для аналитического электронного микроскопа.
- Высокостабильная, надежная электронно-оптическая колонна новой конструкции с 4-линзовым конденсором позволяет управлять интенсивностью пучка и углом его сходимости независимо друг от друга.
Вход на сайт
Раздел в разработке.
Отменить заказ
Ваша корзина
| Наименование | Цена | Кол-во | Стоимость | Удалить |
Ваша корзина пока пуста. | ||||
Итого:0 руб.
Ваша корзина